Przewodnik użytkownika po elipsometrii

Ocena:   (4,9 na 5)

Przewodnik użytkownika po elipsometrii (G. Tompkins Harland)

Opinie czytelników

Podsumowanie:

Książka jest wysoko ceniona wśród użytkowników za jasne wprowadzenie do elipsometrii, dostarczając praktycznej wiedzy i spostrzeżeń szczególnie korzystnych dla początkujących. Zawiera podstawowe pojęcia, równania i studia przypadków, dzięki czemu jest wszechstronnym przewodnikiem, choć ogranicza się do pomiarów pojedynczej długości fali.

Zalety:

Doskonałe wprowadzenie dla nowicjuszy w dziedzinie elipsometrii.
Przejrzyste wyjaśnienia podstawowych pojęć i równań.
Praktyczne podejście do trudności eksperymentalnych.
Wartościowe studia przypadków do zastosowania wiedzy.
Dobra cena i szybka dostawa.

Wady:

Ograniczenie do instrumentów o jednej długości fali i jednym kącie.
Nie obejmuje elipsometrii spektroskopowej, która jest coraz bardziej powszechna.

(na podstawie 7 opinii czytelników)

Oryginalny tytuł:

A User's Guide to Ellipsometry

Zawartość książki:

Ten tekst z zakresu optyki dla studentów studiów magisterskich wyjaśnia, jak określać właściwości i parametry materiałów dla niedostępnych podłoży i nieznanych warstw, a także jak mierzyć bardzo cienkie warstwy. 14 studiów przypadków ilustruje koncepcje i wzmacnia zastosowania elipsometrii - szczególnie w odniesieniu do przemysłu półprzewodników oraz badań obejmujących korozję i wzrost tlenków.

A User's Guide to Ellipsometry pozwoli czytelnikom wyjść poza ograniczone, gotowe zastosowania elipsometrów. Oprócz kompleksowego omówienia pomiaru grubości powłoki i stałych optycznych w powłoce, uwzględniono również trajektorie parametrów elipsometrycznych Del i Psi oraz wpływ zmian materiałów na parametry.

W tym tomie omówiono również zastosowanie polikrzemu, materiału powszechnie stosowanego w przemyśle mikroelektronicznym, oraz wpływ chropowatości podłoża. Trzy dodatki zawierają pomocne odniesienia.

Dodatkowe informacje o książce:

ISBN:9780486450285
Autor:
Wydawca:
Oprawa:Miękka oprawa

Zakup:

Obecnie dostępne, na stanie.

Inne książki autora:

Elipsometria spektroskopowa: Praktyczne zastosowanie do charakteryzacji cienkich warstw -...
Elipsometria jest eksperymentalną techniką określania...
Elipsometria spektroskopowa: Praktyczne zastosowanie do charakteryzacji cienkich warstw - Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization
Przewodnik użytkownika po elipsometrii - A User's Guide to Ellipsometry
Ten tekst z zakresu optyki dla studentów studiów magisterskich wyjaśnia, jak...
Przewodnik użytkownika po elipsometrii - A User's Guide to Ellipsometry
Elipsometria spektroskopowa i reflektometria: Podręcznik użytkownika - Spectroscopic Ellipsometry...
Elipsometria służy do pomiaru grubości i...
Elipsometria spektroskopowa i reflektometria: Podręcznik użytkownika - Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide

Prace autora wydały następujące wydawnictwa:

© Book1 Group - wszelkie prawa zastrzeżone.
Zawartość tej strony nie może być kopiowana ani wykorzystywana w całości lub w części bez pisemnej zgody właściciela.
Ostatnia aktualizacja: 2024.11.13 21:45 (GMT)