Ocena:
Obecnie brak opinii czytelników. Ocena opiera się na 3 głosach.
Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide
Elipsometria służy do pomiaru grubości i właściwości optycznych cienkich warstw.
W ostatnich latach spektroskopia elipsometryczna i ściśle z nią związana reflektometria coraz częściej podbijają laboratoria przemysłowe. Stwarza to potrzebę praktycznego wprowadzenia dla interdyscyplinarnej publiczności naukowców zajmujących się materiałami, fizyków, chemików i inżynierów elektryków, co zostało osiągnięte dzięki tej książce.
(04/99)
© Book1 Group - wszelkie prawa zastrzeżone.
Zawartość tej strony nie może być kopiowana ani wykorzystywana w całości lub w części bez pisemnej zgody właściciela.
Ostatnia aktualizacja: 2024.11.13 21:45 (GMT)
