Wprowadzenie do spektrometrii mas jonów wtórnych w czasie przelotu (Tof-Sims) i jej zastosowanie w materiałoznawstwie

Opinie czytelników

Obecnie brak opinii czytelników. Ocena opiera się na 2 głosach.

Oryginalny tytuł:

An Introduction to Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (Tof-Sims) and Its Application to Materials Science

Zawartość książki:

Badanie ciemnej materii, zarówno w astrofizyce, jak i fizyce cząstek elementarnych, stało się w ostatnich latach jednym z najbardziej aktywnych i ekscytujących tematów badawczych.

Niniejsza książka przedstawia historię odkrycia brakującej masy (lub niewidocznej masy) we Wszechświecie i wiąże ją z proponowanymi rozszerzeniami Modelu Standardowego fizyki cząstek elementarnych (takimi jak supersymetria), które były proponowane w tym samym czasie. Książka ta została napisana jako wprowadzenie do tych problemów w czołówce astrofizyki i fizyki cząstek elementarnych, a jej celem jest przekazanie fizyki ciemnej materii początkującym studentom studiów licencjackich w dziedzinach naukowych.

Książka opisuje istniejące i nadchodzące eksperymenty i techniki, które zostaną wykorzystane do bezpośredniego lub pośredniego wykrywania ciemnej materii.