Wprowadzenie do spektrometrii mas jonów wtórnych w czasie przelotu (Tof-Sims) i jej zastosowanie w materiałoznawstwie

Opinie czytelników

Obecnie brak opinii czytelników. Ocena opiera się na 2 głosach.

Oryginalny tytuł:

An Introduction to Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (Tof-Sims) and Its Application to Materials Science

Zawartość książki:

Niniejsza książka przedstawia zastosowanie spektrometrii mas jonów wtórnych w czasie przelotu (ToF-SIMS) do wysokorozdzielczej analizy powierzchni i charakteryzacji materiałów.

Zawiera ona krótki przegląd zasad SIMS, a także przykłady zastosowania dwuwiązkowej ToF-SIMS do badania szeregu systemów i właściwości materiałów. Na przestrzeni lat oprzyrządowanie SIMS uległo radykalnej zmianie od czasu opracowania najwcześniejszych spektrometrów mas jonów wtórnych.

Instrumenty były kiedyś przeznaczone albo do profilowania głębokości materiałów przy użyciu prądów o wysokiej wiązce jonów do analizy obszarów materiałów od powierzchni do objętości (dynamiczny SIMS), albo do instrumentów czasu przelotu, które wytwarzały złożone widma masowe bardzo zewnętrznej powierzchni próbek, przy użyciu bardzo niskich prądów wiązki (statyczny SIMS). Obecnie, wraz z rozwojem instrumentów dwuwiązkowych, te dwie bardzo różne dziedziny nakładają się na siebie.