Scientific Researches in Atomic Force Microscopy
Ta książka wyjaśnia badania naukowe w dziedzinie mikroskopii sił atomowych.
Wynalezienie mikroskopu sił atomowych (AFM) przyniosło drastyczne zmiany w dziedzinie analizy powierzchni. Okazał się on krytycznym zasobem i metodą badawczą, wykorzystywaną do jakościowego i ilościowego badania powierzchni z rozdzielczością poniżej nanometra.
Dodatkowo, próbki analizowane za pomocą tego mikroskopu nie wymagają wcześniejszych procedur przygotowawczych. Zapobiega to jakimkolwiek zmianom lub niekorzystnym skutkom, które mogą uszkodzić próbkę, umożliwiając jednocześnie trójwymiarowe badanie powierzchni zewnętrznej. Niniejsza książka przedstawia najnowsze prace mistrzów tej metody na całym świecie.
Metoda ta znalazła akceptację w pozyskiwaniu ważnych informacji w różnych dziedzinach. Od czasu jej powstania w 1986 roku, znalazła ona wiele zastosowań w produkcji, badaniach i rozwoju.
