Ocena:

Obecnie brak opinii czytelników. Ocena opiera się na 3 głosach.
Applied Analytics - Quantitative Research Methods: Applying Monte Carlo Risk Simulation, Strategic Real Options, Stochastic Forecasting, Portfolio Opt
TRZECIE WYDANIE (2022)
Seria książek Applied CQRM pokazuje, w jaki sposób zaawansowana analityka objęta programem certyfikacji Certified in Quantitative Risk Management (CQRM) może być zastosowana do rzeczywistych problemów biznesowych. W tomie I pokazujemy, w jaki sposób Risk Simulator i ROV BizStats mogą być wykorzystywane do przeprowadzania analiz ilościowych w badaniach dyplomowych i podyplomowych. Pragmatyczne zastosowania są podkreślane w celu demistyfikacji wielu elementów nieodłącznie związanych z analizą ilościową. Statystyczna czarna skrzynka pozostanie czarną skrzynką, jeśli nikt nie będzie w stanie zrozumieć jej koncepcji pomimo jej mocy i możliwości zastosowania. Dopiero gdy metody czarnej skrzynki staną się przejrzyste, tak aby badacze mogli zrozumieć, zastosować i przekonać innych o ich wynikach, wartości dodanej i możliwości zastosowania, podejścia te zyskają powszechną uwagę. Przejrzystość ta jest osiągana poprzez zastosowanie modelowania ilościowego krok po kroku, a także prezentowanie wielu przypadków i omawianie rzeczywistych zastosowań. Książka ta jest skierowana do osób, które ukończyły program certyfikacji CQRM, ale może być również używana przez każdego, kto zna podstawowe metody badań ilościowych - każdy znajdzie w niej coś dla siebie. Nadaje się również do wykorzystania jako podręcznik na drugim roku studiów MBA/MS lub podręcznik wprowadzający do studiów doktoranckich. Przykłady zawarte w książce zakładają pewną wcześniejszą znajomość tematu. Dodatkowe informacje na temat programu CQRM można uzyskać pod adresem: www.iiper.org www.realoptionsvaluation.com.
PODSTAWY.
Tendencja centralna, rozrzut, skośność, kurtoza.
Prawdopodobieństwo, Twierdzenie Bayesa, Drzewa, Kombinacja, Permutacja.
Klasyczna, standardowa, wartość P, CI.
Centralne twierdzenie graniczne.
Błędy I-IV typu, błędy próbkowania.
Typy danych i projektowanie zbiorów danych.
METODY ANALITYCZNE.
Testy T: Równe/nierówne/sparowane wariancje, test F, test Z.
ANOVA, blokowa, dwukierunkowa, ANCOVA, MANOVA.
Korelacja liniowa/nieliniowa.
Normalność i dopasowanie dystrybucyjne: Kołmogorow-Smirnow, Chi-kwadrat, kryterium informacyjne Akaike, Anderson-Darling, Kuiper's, Schwarz/Bayes, Box-Cox.
Nieparametryczne: Biegi, Wilcoxon, Mann-Whitney, Lilliefors, Q-Q, D'Agostino-Pearson, Shapiro-Wilk-Royston, Kruskal-Wallis, Mood's, Cochran's Q, Friedman's.
Rzetelność wewnętrzna/wewnętrzna, spójność, różnorodność, trafność wewnętrzna/zewnętrzna, przewidywalność.
Kappa Cohena, alfa Cronbacha, lambda Guttmana, korelacja międzyklasowa, W Kendalla, różnorodność Shannona-Brillouina-Simpsona, jednorodność, wartości odstające Grubbsa, Mahalanobisa, dyskryminacja liniowa i kwadratowa, Hannan-Quinn, Diebold-Mariano, Pesaran-Timmermann, precyzja, kontrola błędów.
Liniowa/nieliniowa regresja wielowymiarowa.
Wieloliniowość, heteroskedastyczność.
Modelowanie równań strukturalnych (SEM), metoda najmniejszych kwadratów (PLS).
Endogeniczność, metody równań równoległych, dwustopniowe metody najmniejszych kwadratów.
Przyczynowość Grangera, Engle-Granger.
Regresja zaawansowana: Poissona, Deminga, logistyczna porządkowa, Ridge'a, ważona, Bootstrap.
SZTUCZNA INTELIGENCJA I UCZENIE MASZYNOWE (NAUKA O DANYCH)
Bagging Linear Bootstrap.
Bagging Nonlinear Bootstrap.
Drzewa klasyfikacyjne i regresyjne CART.
Custom Fit.
Redukcja wymiarów Analiza składowych głównych.
Analiza czynnikowa z redukcją wymiarów.
Wspólne dopasowanie zespołu.
Ensemble Complex Fit.
Zespół szeregów czasowych.
Gaussian Mix & K-Means Segmentation.
K-Najbliżsi Sąsiedzi.
Liniowy model dopasowania.
Wielowymiarowa analiza dyskryminacyjna (liniowa)
Wielowymiarowa analiza dyskryminacyjna (kwadratowa)
Sieć neuronowa (cosinus, tangens, hiperboliczny)
Logistyczna klasyfikacja binarna.
Klasyfikacja binarna Normit-Probit.
Drzewa filogenetyczne i klastrowanie hierarchiczne.
Las losowy.
Klasteryzacja segmentacyjna.
Maszyny wektorów nośnych SVM.