Wprowadzenie do elipsometrii spektroskopowej materiałów cienkowarstwowych: Oprzyrządowanie, analiza danych i zastosowania

Oryginalny tytuł:

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

Zawartość książki:

Jedyny w swoim rodzaju tekst oferujący wprowadzenie do wykorzystania elipsometrii spektroskopowej do charakteryzacji nowych materiałów.

Wprowadzenie do elipsometrii spektroskopowej materiałów cienkowarstwowych: Instrumentation, Data Analysis and Applications, zespół wybitnych badaczy dostarcza wnikliwej analizy tego, w jaki sposób tradycyjna technika eksperymentalna elipsometrii spektroskopowej jest wykorzystywana do charakteryzowania wewnętrznych właściwości nowych materiałów. Książka koncentruje się na ważnych z naukowego i technologicznego punktu widzenia dwuwymiarowych dichalkogenkach metali przejściowych (2D-TMD), tlenkach magnetycznych, takich jak materiały manganitowe, oraz niekonwencjonalnych nadprzewodnikach, w tym układach tlenków miedzi.

Wybitni autorzy omawiają charakterystykę właściwości, takich jak struktury elektronowe, właściwości międzyfazowe i wynikająca z nich dynamika kwazicząstek w nowych materiałach kwantowych. Wraz z ilustracyjnymi i konkretnymi studiami przypadków, w jaki sposób elipsometria spektroskopowa jest wykorzystywana do badania właściwości optycznych i kwazicząsteczkowych nowych systemów, książka zawiera: Gruntowne wprowadzenie do podstawowych zasad elipsometrii spektroskopowej i silnie skorelowanych układów, w tym tlenków miedzi i manganitów Kompleksowe badania dwuwymiarowych dichalkogenków metali przejściowych Praktyczne dyskusje na temat jednowarstwowych układów grafenowych i układów niklanowych Dogłębne analizy potencjalnych przyszłych osiągnięć i zastosowań elipsometrii spektroskopowej.

Idealna dla studentów studiów magisterskich i doktoranckich w dziedzinie fizyki i chemii, książka Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials znajdzie również miejsce w bibliotekach osób studiujących materiałoznawstwo, poszukujących kompleksowego odniesienia do zastosowań elipsometrii spektroskopowej w nowo opracowanych materiałach.