Ocena:
Książka jest wysoko ceniona za jasne wyjaśnienia i kompleksowe omówienie transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM), dzięki czemu jest odpowiednia zarówno dla początkujących, jak i zaawansowanych użytkowników. Wielu czytelników uznało ją za pomocną w zrozumieniu złożonych pojęć i doceniło jej głębię w fizyce i praktycznych zastosowaniach.
Zalety:Łatwy w czytaniu, wszechstronny dla początkujących i zaawansowanych studentów, doskonały materiał referencyjny, głębokie zrozumienie tworzenia obrazu TEM, szczegółowe przykłady zastosowań.
Wady:Brak konkretnych wad wymienionych w recenzjach.
(na podstawie 5 opinii czytelników)
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Ta książka wyjaśnia koncepcje transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM) i dyfraktometrii rentgenowskiej (XRD), które są ważne dla charakteryzacji materiałów. W czwartym wydaniu dodano ważne nowe techniki TEM, takie jak tomografia elektronowa, dyfrakcja nanowiązkowa i geometryczna analiza fazowa.
Nowy rozdział poświęcony rozpraszaniu neutronów uzupełnia trio dyfrakcji rentgenowskiej, elektronowej i neutronowej. Wszystkie rozdziały zostały zaktualizowane i poprawione pod kątem przejrzystości. Książka wyjaśnia podstawy oddziaływania fal i funkcji falowych z atomami w ciałach stałych oraz podobieństwa i różnice w stosowaniu promieniowania rentgenowskiego, elektronów i neutronów do pomiarów dyfrakcyjnych.
Szczegółowo wyjaśniono efekty dyfrakcji związane z porządkiem krystalicznym, defektami i nieuporządkowaniem w materiałach. Omówiono zarówno zagadnienia praktyczne, jak i teoretyczne.
Książka może być wykorzystywana zarówno na kursach wprowadzających, jak i zaawansowanych, ponieważ jej rozdziały są podzielone według stopnia trudności. Każdy rozdział zawiera zestaw problemów ilustrujących zasady, a obszerny dodatek zawiera ćwiczenia laboratoryjne.