Ocena:
Obecnie brak opinii czytelników. Ocena opiera się na 2 głosach.
Digital Circuit Testing: A Guide to DFT and Other Techniques
Niedawny postęp technologiczny spowodował kryzys testowania w przemyśle elektronicznym - mniejsze, bardziej zintegrowane układy elektroniczne i nowe techniki pakowania sprawiają, że fizyczny dostęp do węzłów testowych jest coraz trudniejszy.
Potrzebne są nowe metody testowania dla następnej generacji sprzętu elektronicznego i duży nacisk kładzie się na rozwój tych metod. Niektóre z technik, które stają się obecnie popularne, obejmują projektowanie pod kątem testowalności (DFT), wbudowany autotest (BIST) i automatyczne generowanie wektorów testowych (ATVG).
Niniejsza książka stanowi praktyczne wprowadzenie do tych i innych technik testowania. Dla każdej wprowadzonej techniki autor podaje przykłady z życia wzięte, dzięki czemu czytelnik może uzyskać praktyczną wiedzę na temat wyboru i stosowania tych coraz ważniejszych metod testowania.