Systemy zogniskowanej wiązki jonów: Podstawy i zastosowania

Opinie czytelników

Obecnie brak opinii czytelników. Ocena opiera się na 3 głosach.

Oryginalny tytuł:

Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications

Zawartość książki:

System zogniskowanej wiązki jonów (FIB) jest ważnym narzędziem do zrozumienia i manipulowania strukturą materiałów w nanoskali.

Połączenie tego systemu z wiązką elektronów tworzy DualBeam - pojedynczy system, który może funkcjonować jako narzędzie do obrazowania, analizy i modyfikacji próbek. Prezentując zasady, możliwości, wyzwania i zastosowania techniki FIB, ten zredagowany tom, opublikowany po raz pierwszy w 2007 roku, kompleksowo obejmuje technologię wiązki jonowej, w tym DualBeam.

Omówiono podstawowe zasady działania wiązki jonów i systemów dwuwiązkowych, ich interakcję z materiałami, trawienie i osadzanie, a także charakterystykę materiałów in situ, przygotowanie próbek, trójwymiarową rekonstrukcję i zastosowania w biomateriałach i nanotechnologii. Ponieważ materiały nanostrukturalne stają się coraz ważniejsze w urządzeniach mikromechanicznych, elektronicznych i magnetycznych, ten kompleksowy przegląd zakresu metod wiązki jonowej, ich zalet i najlepszych sposobów ich wdrażania jest cennym źródłem informacji dla naukowców zajmujących się materiałoznawstwem, elektrotechniką i nanotechnologią.