Full Field Optical Metrology and Applications
Metody i techniki optycznej metrologii pełnego pola istnieją od czasu pierwszych eksperymentów interferometrycznych przeprowadzonych przez Thomasa Younga w XIX wieku. Niniejsza książka przedstawia bardziej szczegółowo bezkontaktowe techniki optyczne oparte na efekcie plamki. Obejmuje ona również metrologię powierzchni i bada inne cechy związane z powierzchnią, takie jak odkształcenia, naprężenia, wibracje, kontury oraz jej przemieszczenia x, y i z (sprzężone jako wektory w 2D i 3D). Ponadto w książce przedstawiono nowoczesne metody odzyskiwania fazy, optyczną koherentną tomografię (OCT) i metodę Moira.
W książce omówiono podstawy teoretyczne i zbadano szereg zastosowań metrologii optycznej pełnego pola, które są szeroko stosowane w wielu dziedzinach, takich jak biomedycyna, kontrola jakości, teledetekcja i sondowanie oraz projektowanie produkcji.
Kluczowymi odbiorcami tego tekstu są naukowcy i inżynierowie poszukujący książki referencyjnej zawierającej szczegółowe informacje na temat metod/technik metrologii opartej na plamkach w pełnym polu.
Kluczowe cechy
⬤ Zapewnia podstawy klasycznego tematu interferometrii.
⬤ Omówiono kilka zastosowań pełnopolowej metrologii optycznej, które są szeroko wykorzystywane w wielu dziedzinach, takich jak biomedycyna, kontrola jakości, teledetekcja i sondowanie oraz projektowanie produkcji.
⬤ Zawiera kompletny opis metodologii wykonywania cyfrowej holograficznej/spekularnej interferometrii 3D i holografii elektronowej, które nie są dostępne w innych tekstach.