Ocena:
Książka jest chwalona jako doskonałe źródło wprowadzające do dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego, odpowiednie dla studentów studiów licencjackich i osób początkujących w tej dziedzinie. Zapewnia dobre zrozumienie podstaw, nie przytłaczając czytelnika nadmiernymi szczegółami matematycznymi lub technicznymi.
Zalety:Dobrze nadaje się dla początkujących, jasne wyjaśnienia pojęciowe, unika nadmiernej złożoności matematycznej, wyposaża czytelników w odpowiednią terminologię, służy jako dobry prekursor bardziej zaawansowanych tekstów.
Wady:Brak szczegółowych wskazówek instrumentalnych i zaawansowanych technik analizy danych, które mogą wymagać dodatkowych zasobów lub bardziej specjalistycznych tekstów w późniejszym czasie.
(na podstawie 1 opinii czytelników)
X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications
Dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego jest użyteczną i wydajną techniką analizy służącą do charakteryzowania materiałów krystalicznych, powszechnie stosowaną w MSE, fizyce i chemii. Ta nowa, pouczająca książka opisuje zasady dyfrakcji rentgenowskiej i jej zastosowania do charakteryzacji materiałów. Składa się ona z trzech części. Pierwsza dotyczy elementarnej krystalografii i optyki, która jest niezbędna do zrozumienia teorii dyfrakcji rentgenowskiej omówionej w drugiej części książki. Część druga opisuje, w jaki sposób dyfrakcja rentgenowska może być stosowana do charakteryzowania różnych form materiałów, takich jak cienkie warstwy, pojedyncze kryształy i proszki. Trzecia część książki obejmuje zastosowania dyfrakcji rentgenowskiej.
W książce przedstawiono szereg przykładów, które pomogą czytelnikom lepiej zrozumieć temat. X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications również.
- zapewnia podstawową wiedzę na temat dyfrakcji, aby umożliwić niespecjalistom zapoznanie się z tematami.
- obejmuje praktyczne zastosowania, jak również podstawowe zasady dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego.
- przedstawia odpowiednie przykłady wraz z odpowiedziami, aby ułatwić czytelnikom zrozumienie treści.
- zawiera charakterystykę cienkich warstw za pomocą dyfrakcji rentgenowskiej z odpowiednimi technikami eksperymentalnymi.
- prezentuje ogromną liczbę starannie narysowanych grafik, które pomagają zilustrować treść.
Książka pomoże czytelnikom (studentom i badaczom w dziedzinie materiałoznawstwa, fizyki i chemii) zrozumieć krystalografię i struktury krystaliczne, interferencję i dyfrakcję, analizę strukturalną materiałów objętościowych, charakteryzację cienkich warstw oraz nieniszczący pomiar naprężeń wewnętrznych i przemian fazowych.
Dyfrakcja jest zjawiskiem optycznym, a zatem może być lepiej zrozumiana, gdy jest wyjaśniona za pomocą podejścia optycznego, które zostało pominięte w innych książkach. Niniejsza książka pomaga wypełnić tę lukę, dostarczając informacji na temat koncepcji dyfrakcji rentgenowskiej i jej zastosowania w analizie materiałów.
Książka ta będzie cennym podręcznikiem dla badaczy w tej dziedzinie i sprawdzi się jako dobry podręcznik wprowadzający do dyfrakcji rentgenowskiej dla studentów materiałoznawstwa, fizyki i chemii.