Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
Książka ta, stanowiąca aktualny przegląd eksperymentalnych i teoretycznych metod wykorzystywanych do badania defektów w półprzewodnikach, koncentruje się na najnowszych osiągnięciach napędzanych wymaganiami nowych materiałów, w tym azotków, półprzewodników tlenkowych i półprzewodników dwuwymiarowych.
Napisana przez międzynarodowy zespół i zredagowana przez wysoko cenionego badacza w tej dziedzinie, książka zapewnia dogłębne omówienie różnych technik charakteryzacji i sugeruje metody kontrolowania defektów, a tym samym właściwości półprzewodników.