Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces
Dziedzina ultracienkich warstw, podgrupa nanomateriałów, odnotowała wzrost badań w ciągu ostatnich 30 lat. Badania przeprowadzono głównie przy użyciu reflektometrii neutronowej i rentgenowskiej.
Technika spolaryzowanej reflektometrii neutronowej (PNR) jest unikalnym nieniszczącym narzędziem do zrozumienia magnetyzmu cienkich warstw w mezoskopowej skali długości. Niniejsza książka przedstawia techniki reflektometrii rentgenowskiej i neutronowej oraz sposób ich wykorzystania do badania struktury interfejsu i magnetyzmu w mezoskopowej skali długości w cienkich warstwach i wielowarstwach. Tekst obejmuje podstawowe zasady reflektometrii neutronowej i rentgenowskiej oraz różne tryby reflektometrii neutronowej z wieloma przydatnymi przykładami.
Tekst jest pomocny dla studentów pracujących w dziedzinie magnetyzmu powierzchniowego w cienkich warstwach i wielowarstwach. Główne cechy: Wprowadza czytelnika w dziedzinę reflektometrii, w szczególności spolaryzowanej reflektometrii neutronowej i reflektometrii rentgenowskiej.
Zapoznaje badaczy ze znaczeniem właściwości interfejsu w cienkich warstwach. Demonstruje na przykładach, w jaki sposób można określić właściwości z rozdzielczością poniżej nanometra.
Zawiera podsumowanie z dużą liczbą współczesnych przykładów i odniesień.